
镀层厚度分析仪
- 产品型号:XRF-9500
- 更新时间:2015-11-07
- 产品介绍:目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面,是属于有损检测,测量手段繁琐,速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟,可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数,是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一*的检测技术。
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产品介绍
一、前言
电镀是国民经济中*的基础工艺性行业,要提高电镀企业的实力就必须从企业的硬件着手,而内部管控测试是*的环节。电镀,就是通过电化学的方法,将一种金属或金属化合物镀覆到基体上的工艺。电镀的基本原材料就是锌、镍、铜、铬及金、银等重金属。镀层测量已成为金属加工业进行成品质量检测*的重要工序之一,是产品达到优质标准的*手段。目前,国内外已普遍按统一的标准测定镀层厚度,镀层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的进步而变得更加重要。
二、解决方案
zuijia的镀层无损检测方法
目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面,是属于有损检测,测量手段繁琐,速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟,可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数,是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一*的检测技术。
X射线荧光光谱法(XRF)的工作原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析出元素成份。
选择X荧光光谱镀层检测仪的四个理由:
1、无损检测
镀层工艺的高要求,让楔切法、光截法等传统的破坏性检测方法越来越不适用,市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法,而X射线荧光光谱法无非是zuijia的镀层无损检测方法。
2、强化品质管控
X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据,这是做好电镀品质管控的前提。
3、提升生产力
传统的检测技术,既耗时又耗人力,而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力,且检测速度快、精度高,这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助,从而带来更多的经济效益。
4、提升市场竞争力
X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力,也可以帮助电镀企业在行业里保持领xian的竞争优势。
仪器推荐:镀层检测仪XRF-9500
镀层检测仪XRF-9500根据多年的镀层检测技术和经验,自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一。它配备了美国进口的Si-PIN探测器,并集成探测器供电控制系统等十多项自主研发产品,符合镀层检测标准GB/T 16921-2005。
镀层厚度分析仪性能特点
无损:无损检测,不需要任何耗材
精准:美国进口Si-PIN探测器,对所有元素均能精准检测
简便:操作简易,无需专业测试人员,无需严格的测试条件
快速:3秒内可对样品定性识别,60秒内可得出测试结果
直观:高清晰图形即时显示,检测结果直观明了
安全:加装防辐射装置,主动保护操作人员安全
镀层厚度分析仪技术参数
设备原理:X荧光能量色散
元素分析:从Na~U的所有元素
检出限:100ppm(zuijia基体效应)
测量精度:±10PPM~0.1%
扩展不确定度:≤0.19%
镀层测量:镀层厚度范围<30um
X射线源:Mo靶的X射线光管 风冷(无辐射)
探测器:Si-PIN探测器(美国进口)
分辨率:145Kev±5
摄像头:高清晰摄像定位系统
软件:菜单式软件,带硬件参数调整和数据评估及计算
高压器:0~50Kv(进口)
温度:-11~46℃
电压:100~127V或220~240V,50/60Hz
zui大功率:144W
主体结构:高强度金属支架 工程塑料外壳
重量:32公斤
尺寸:650*450*350mm
标准配置
主动式射线保护
高压过压保护
光管过热保护
全局故障诊断
升降压预启动
扩展线材及辅助支架
三、我们的服务
从售前、售中到售后,为客户提供一条龙的周到服务。
1、售前咨询:关注客户应用需求,提供合理专业的解决方案,或者邀请客户现场体验操作等。
2、操作培训:为客户提供完整的产品操作手册,并通过线上或者上门的方式为客户提供安装指导和操作培训。
3、客户回访:定期回访客户,听取客户的建议,帮助客户解决实际操作过程中遇到的问题。
4、产品保修:所有产品均实行国家三包政策,保修一年,三个月包换,终身维护。
5、升级服务:终身为客户提供免费的软件升级服务。
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