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- XRF-D7镀层厚度分析仪
X荧光光谱镀层测厚仪，型号：XRF-D7，标配美国进口新一代SI-P探测仪，测试范围：硫S-铀U.镀层分析厚度范围：0.0035um--40um。
- 型号：XRF-D7
- 更新日期：2015-09-21 ￥119000
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- XRF-D8镀层厚度分析仪
X荧光光谱镀层测厚仪，型号：XRF-D8，标配美国进口SDD探测器，测试范围：镁Mg-铀U.镀层分析厚度范围：0.0035um--40um。
- 型号：XRF-D8
- 更新日期：2015-09-21 ￥169000
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- XRF-9500镀层厚度分析仪
目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面，是属于有损检测，测量手段繁琐，速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟，可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数，是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一*的检测技术。
- 型号：XRF-9500
- 更新日期：2015-11-07 ￥129000
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- XRF-D7金属镀层厚度分析仪
金属镀层厚度分析仪标配美国进口新一代SI-P探测仪，测试范围：硫S-铀U.镀层分析厚度范围：0.0035um--40um。
- 型号：XRF-D7
- 更新日期：2016-11-09 ￥面议
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