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  • XRF-D7镀层厚度分析仪

    X荧光光谱镀层测厚仪,型号:XRF-D7,标配美国进口新一代SI-P探测仪,测试范围:硫S-铀U.镀层分析厚度范围:0.0035um--40um。

    型号:XRF-D7
    更新日期:2015-09-21
    119000
  • XRF-D8镀层厚度分析仪

    X荧光光谱镀层测厚仪,型号:XRF-D8,标配美国进口SDD探测器,测试范围:镁Mg-铀U.镀层分析厚度范围:0.0035um--40um。

    型号:XRF-D8
    更新日期:2015-09-21
    169000
  • XRF-9500镀层厚度分析仪

    目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面,是属于有损检测,测量手段繁琐,速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟,可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数,是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一先进的检测技术。

    型号:XRF-9500
    更新日期:2015-11-07
    129000
  • XRF-D7金属镀层厚度分析仪

    金属镀层厚度分析仪标配美国进口新一代SI-P探测仪,测试范围:硫S-铀U.镀层分析厚度范围:0.0035um--40um。

    型号:XRF-D7
    更新日期:2016-11-09
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