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X荧光光谱仪的优缺点及分类

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 X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。

优缺点
优点
a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。
b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。
d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。
f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
缺点
a) 定量分析需要标样。
b)对轻元素的灵敏度要低一些。
c)容易受元素相互干扰和叠加峰影响。

分类
X荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
以X荧光的波粒二象性中波长特征为原理的称为波长色散型,以能量特征为原理的称为能量色散型。
 

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