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X荧光光谱仪XRF---元素之间干扰判定

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激发辐射的散射将影响样品中元素的特征辐射强度,这是由于散射过程将影响光谱的背景。此外,还存在两个主要的效应:

样品中激发辐射被吸收和由此产生的或由其他元素(基体)发射的荧光辐射。

样品中其他元素的次级激发(增强)。

样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其它元素的干扰,典型的干扰如下:

1、逃逸峰

逃逸峰的产生机理:进入硅检测器的X荧光如果其能量比硅的吸收限(1.74KeV)高,那么该入射X荧光会激发出新的硅X荧光,当部分硅的X荧光逃逸出监测器时,探测器只能探测到原入射X荧光损失了1.74KeV之后的能量,从而形成逃逸峰,如图所示。

案例:

(1)物料含高Sn时中测试Cd元素的影响

影响产生的机理:当样品中含有大量的Sn,其Ka能量为25.044KeV。Sn元素的逃逸峰能量为23.304KeV与Cd元素Ka能量23.130KeV接近,存在互相干扰。如图"所示。


(2) 物料含高Ti时对Cl元素的影响

影响产生的机理:当样品中含有大量的Ti或其化合物,其Ka能量为4.512KeV。Ti元素的逃逸峰能量为2.772KeV与Cl元素ClKa能量2.620KeV接近,存在互相干扰。如图"所示。



2、和峰

    和峰的产生机理:当多束X荧光在几乎同一时间射入检测器时,这些射线的能谱累积处会出现和峰,检测器会将其误判为另外一种元素的特征射线。在针对RoHS禁用物质的检测中,如果铅大量存在,那么,在Pb-Lb1、Pb-Lα线累积并加倍的位置会出现一个和峰,该峰于Cd的能谱位置重叠,对元素Cd的测定产生影响(导致元素Cd的测定结果比实际的高)。如图所示。


3、As对Pb的影响

    影响产生的机理:在对RoHS禁用物质的检测中,Pb-Lα线和As-Kα线有重叠,因此,在样品中含有大量元素As时,会对元素Pb的测定结果产生影响。如图所示。


4、高Br对Pb的影响

    影响产生的机理:当样品中含有大量Br的时候,会把相邻的PbLb峰盖住或抬高,则影响到元素Pb的测定结果(元素Pb的测定结果会比实际的高),如图所示。


注:以上例举几种常见元素干扰,仅供参考,举一反三。

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