1、水分效应的分析
x荧光光谱仪在实际工作过程中，水分对其测量结果有很大的影响，其主要有两方面，一方面是水分对入射射线和次级射线的吸收，另一方面是水分对初级射线的散射。水分吸收入射射线会使得X荧光光谱仪测量的目标元素的特征X射线计数率减小，而水分散射的射线会使得测得谱线的本底和散射计数增大，加大了对目标元素的特征峰影响。因此，在X荧光光谱仪分析技术中，水分对测量结果的影响是不能忽略的。
由于不同元素的特征x射线能量大小不同，水分影响的结果也是不同的。对于轻元素或者是原子序数小的中等元素，它们的特征X射线能量较低，水分对其吸收就会较为明显。对铁矿样品，其原子序数较低且特征X射线能量较小，水分效应对其计数率的影响就较为明显。因此，在制样的时候，对样品进行充分的烘干就显得非常重要。
2、制样压力分析
在对粉末样品进行X射线荧光光谱仪分析时，对于未压制过的样品直接进行测量，由于样品颗粒间隙中存在空气，这会对入射射线造成一定的吸收和散射，势必会影响到测量的结果。采用压片法制样时，这就会存在压制样品的压力大小的选择。为了减小测量结果的误差，尽量消除密度效应对铁矿石选矿工艺流程中的铁矿样品的影响，对样品采用不同压力制样，测量结果会出现不同的变化情况。通对铁矿粉末样品上的压力与仪器测量结果之间关系的分析研究。当样品的厚度足够的情况下，制样压力在0.5Mpa以下时，x射线荧光光谱仪对铁矿样品中的铁元素的分析结果随着制样压力的增加而增大。同样前提条件下，制样压力在0.5Mpa以上时，仪器的分析结果随着制样压力的增加变化趋于平稳，测量结果基本一致。这样可以认定仪器在0．5Mpa以上时，铁矿样品在厚度饱和的情况下，制样压力对仪器的测量结果的影响可以消除。一般情况采用了1Mpa的制样压力进行制样，可以很好的消除制样压力对样品制备的影响，提高仪器的测量精度。
3、饱和厚度分析
X射线在样品中的穿越厚度与入射射线的能量有很大的关系，入射射线能量越大，穿越的厚度就会越深。在用X射线荧光仪分析待测样品时，样品的厚度不够，那么射线极有可能就会穿越样品进入空气中，这就会降低待测样品的计数率，对结果造成一定的影响。因此，对样品饱和厚度对仪器测量结果的影响进行研究是十分必要的。
铁矿样品测量计数率随着样品的重量的增加逐渐增大，在样品达到5g以上时，仪器的测量结果变化趋势变缓，且基本趋于稳定。通过实验，可以认定当铁矿样品重量达到5g时，对于本次实验制样模具大小和采用1Mpa压力制样的情况下，样品达到饱和厚度。对于同样条件下，5g样品的饱和厚度通过游标卡尺测量的厚度显示为3.125mm。因此，本文实验在制样过程中，统一模具下，样品的重量尽量在5g以上，才能消除样品厚度不足给仪器测量带来的误差。
4、不均匀效应分析
X射线荧光分析技术对粉末样品进行分析，样品的不均匀性、颗粒度大小和偏析现象都会对分析结果造成很大的影响。在制备样品时，必须要加以注意。常常把由待测样品颗粒度的大小不一对X射线荧光分析造成的影响称为颗粒度效应，而由于矿物中存在的矿化不均匀引起结果的偏差称之为矿化不均匀效应。
