X荧光镀层厚度测试仪T900

2017-10-09

T900 产品特点
（1）集成工业级计算机，外接大显示器，减少数据处理干扰和数据传输故障，仪器运行更稳定；
（2）配0.1MM小准直器，适应各种镀层厚度检测需求；
（3）仪器自动校准，确保仪器测试数据的准确性；
（4）自带WIFI系统，方便接入网络打印机和远程数据调试；
（5） 800万像素高清摄像定位系统，准确定位测试点；
（6）样品测试结束时，有音乐提醒，提示跟换样品，提高工作效率；
（7）开放式工作曲线标定功能，客户可自主增加测试项目；
（8）可自定义多种报告输出形式；
（9）超大数据库，确保测试结果的准确性；
（10）集成数据统计功能，方便品质部门筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；

T900 技术参数

1

仪器测试范围：

Fe基材：镀层Cr/Zn/Ni/Ag/Au zui多测试五层

Cu基材：镀层Ag/Sn/Au/Ni等zui多测试五层

其他基材等

2

样品种类：

金属上镀金属镀层

3

zui低检出限：

镀层分析：0.0035um--40um

4

测试时间：

30s-100s(软件自动调整)

5

摄像定位系统：

1200万真像素高清定位系统；

6

X射线光管：

窗口材料：金属铍

使用寿命：大于30000小时

7

探测器：

美国Amptek*镀层探测器

分辨率125ev±2

9

高压电源：

0-90kev，0-2mA   zui大100W

10

高压保护措施

过压自保护，自恢复

11

集成工业计算机：

（电脑一体机）

4G内存，1.6G双核CPU

操作系统：正版Windows7   （无需外接电脑）

12

准直滤光系统：

光斑大小：φ0.1mm、0.5mm、4mm(软件自动选择)

滤光系统：15种5组（软件自动选择）

13

工作环境温度：

温度 :15-30℃  ；湿度：≤75% （不结露）

14

输入电源：

AC 220V±15%，50Hz

15

仪器尺寸：

450mm*450mm*350mm

16

测试样品腔尺寸：

300mm*300mm*260mm

17

辐射防护标准：

远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准

T900 技术参数
1	仪器测试范围：	Fe基材：镀层Cr/Zn/Ni/Ag/Au zui多测试五层 Cu基材：镀层Ag/Sn/Au/Ni等zui多测试五层其他基材等
2	样品种类：	金属上镀金属镀层
3	zui低检出限：	镀层分析：0.0035um--40um
4	测试时间：	30s-100s(软件自动调整)
5	摄像定位系统：	1200万真像素高清定位系统；
6	X射线光管：	窗口材料：金属铍使用寿命：大于30000小时
7	探测器：	美国Amptek*镀层探测器分辨率125ev±2
9	高压电源：	0-90kev，0-2mA zui大100W
10	高压保护措施	过压自保护，自恢复
11	集成工业计算机：（电脑一体机）	4G内存，1.6G双核CPU 操作系统：正版Windows7 （无需外接电脑）
12	准直滤光系统：	光斑大小：φ0.1mm、0.5mm、4mm(软件自动选择) 滤光系统：15种5组（软件自动选择）
13	工作环境温度：	温度 :15-30℃ ；湿度：≤75% （不结露）
14	输入电源：	AC 220V±15%，50Hz
15	仪器尺寸：	450mm450mm350mm
16	测试样品腔尺寸：	300mm300mm260mm
17	辐射防护标准：	远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准