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Z简单的镀层无损检测方法

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目前常用的镀层检测方法主要有楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光光谱法等。前五种方法要损坏产品或产品表面,是属于有损检测,测量手段繁琐,速度慢。而X射线荧光光谱法的技术相对成熟,可以达到即时分析,无损检测,不需要任何耗材,并且检测精度可以达到小数点后四位数,是我国普及型贵金属检测技术的发展方向。西凡科技生产的镀层检测仪使用的就是X射线荧光光谱法这一先进的检测技术。
X射线荧光光谱法(XRF)的工作原理是利用X射线激发被测物体表面,使得其表面原子发生能级跃迁,利用探测器接收到X射线,然后通过能谱图对比分析出元素成份。
选择X荧光光谱镀层检测仪的四个理由:
1、无损检测
镀层工艺的高要求,让楔切法、光截法等传统的破坏性检测方法越来越不适用,市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法,而X射线荧光光谱法无非是zuijia的镀层无损检测方法。
2、强化品质管控
X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据,这是做好电镀品质管控的前提。
3、提升生产力
传统的检测技术,既耗时又耗人力,而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力,且检测速度快、精度高,这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助,从而带来更多的经济效益。
4、提升市场竞争力
X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力,也可以帮助电镀企业在行业里保持领xian的竞争优势。
仪器推荐:镀层检测仪XRF-9500
镀层检测仪XRF-9500根据多年的镀层检测技术和经验,自主研发生产的X射线荧光光谱检测仪之一。它配备了美国进口的Si-PIN探测器,并集成探测器供电控制系统等十多项自主研发产品,符合镀层检测标准GB/T 16921-2005。
镀层厚度分析仪性能特点
无损:无损检测,不需要任何耗材
:美国进口Si-PIN探测器,对所有元素均能检测
简便:操作简易,无需专业测试人员,无需严格的测试条件
快速:3秒内可对样品定性识别,60秒内可得出测试结果
直观:高清晰图形即时显示,检测结果直观明了
安全:加装防辐射装置,主动保护操作人员安全

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